Atoomkragmikroskopie

Die beginsel van AFM

Atoomkragmikroskopie (Engels Atomic Force Microscopy AFM; Afrikaans soms AKM) is 'n vorm van skanderingmikroskopie, wat vermag strukture op die grootteskaal van atome op 'n vlak monsteroppervlak sigbaar te maak.

Die monster word deur 'n piëso-elektriese element met 'n noukeurigheid van pikometers onderdeur die tip van 'n hefboomtaster beweeg. Die tip ondergaan 'n kleefkrag deur die kontak met die monster wat veral deur Van der Waals se krag veroorsaak word. Elke uitsteeksel op die oppervlak veroorsaak 'n verbuiging van die taster wat die weerspieëlde laserbundel effens laat verskuif. Die detektor stuur hierdie verskuiwing na 'n rekenaar se terugvoerelektronika wat die hoogte van die piëso-elektriese tafel regstel om die verbuiging nul te maak. Hierdie seine word in die rekenaar gestoor en lewer 'n beeld van die monster se oppervlak. Omdat piëso-elektriese elemente deur opgelegde elektriese spannings bewegings met 'n noukeurigheid van pikometers kan uitvoer is die olplossende vermoë van hierdie tegniek baie groot.[1]

Galery

[wysig | wysig bron]
  • 'n Halgeleieroppervlak wat op nanometerskaal gestruktureer is
    'n Halgeleieroppervlak wat op nanometerskaal gestruktureer is

Verwysings

[wysig | wysig bron]
  1. ↑ "how does an AFM microscope-work". Oxinst.