Mikroskopija skenirajućom sondom

Mikroskopija skenirajućom sondom (MSS) (engl. Scanning Probe Microscopy - SPM) je oblast mikroskopije koja se zasniva na upotrebi mjernog uređaja neke fizičke veličine (sonda), čijim se relativnim kretanjem u odnosu na snimani uzorak (skeniranje) vrši mjerenje vrijednosti fizičke veličine u ravnomerno raspoređenim tačkama uzorka. Na tom osnovu se rekonstruiše izgled površine (mjerene fizičke veličine) za cijeli uzorak.

Na principu MSS rade savremeni elektronski mikroskopi, ali i mikroskop atomskih sila i skenirajući tunelski mikroskop. Razlika između ovih tehnologija je u konstrukciji sonde i izboru fizičke veličine na osnovu koje se vrši rekonstrukcija izgleda uzorka.

Vanjski linkovi

• Mikroskopija skenirajućom sondom, autor John W. Cross Arhivirano 10. 4. 2008. na Wayback Machine
• Mikroskopija skenirajućom sondom, na Institute of Food Research Arhivirano 5. 5. 2010. na Wayback Machine
• Karakterizacija u nanotehnologiji, pojedini pdf
• Osvrt na STM/AFM/SNOM principe, sa obrazovnim Flash animacijama
• SPM Image Gallery - AFM STM SEM MFM NSOM i drugi
• Kako SPM radi
• SPM Scan Image Galerija
• SPM Glosar
• SPM galerija: surface scans, collages, artworks, desktop wallpapers Arhivirano 23. 6. 2012. na Wayback Machine
• SPM Applications: Image Gallery
• SPM Scan Image Galerija
• SPM Scan Image Galerija