Scanning-sondemikroskopi

Et SEM-billede af en sonde, der bruges til piezorespons kraftmikroskopi.

Scanning-sondemikroskopi (engelsk: Scanning Probe Microscopy, SPM) er en klasse af mikroskopi-metoder, hvor en spids nål - en sonde - bringes meget tæt på en overflade for at måle den. Ved at bevæge sonden henover overfladen kan et billede dannes.

SPM blev opfundet af Gerd Binnig og Heinrich Rohrer i 1981 i form af scanning-tunnelmikroskopi, hvor der mellem sonden og overfladen løber en meget svag strøm pga. kvantemekanisk tunnelering.[1]

Kildehenvisninger

[redigér | rediger kildetekst]
  1. ^ Salapaka, Srinivasa; Salapaka, Murti (2008). "Scanning Probe Microscopy". IEEE Control Systems Magazine. 28 (2): 65-83. doi:10.1109/MCS.2007.914688. ISSN 0272-1708.
FysikSpire
Denne artikel om fysik er en spire som bør udbygges. Du er velkommen til at hjælpe Wikipedia ved at udvide den.