Μικροσκοπία ατομικής δύναμης

Μέρος μια σειράς λημμάτων
Νανοτεχνολογία
Αντίκτυπος της νανοτεχνολογίας και Εφαρμογές της νανοτεχνολογίας
Νανοϋλικά
Μοριακή αυτοσυναρμολόγηση
Νανοηλεκτρονική
Νανομετρολογία
Μοριακή νανοτεχνολογία

Η μικροσκοπία ατομικής δύναμης (AFM) ή η μικροσκοπία δύναμης σάρωσης ( SFM ) είναι ένας πάρα πολύ υψηλής ανάλυσης τύπος μικροσκοπίου ανιχνευτή σάρωσης (SPM), με αποδεδειγμένη ανάλυση της τάξης των κλασμάτων ενός νανομέτρου, περισσότερο από 1000 φορές καλύτερη από την οπτική περίθλαση όριο.