Michael Bedzyk | ||
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Información profesional | ||
Ocupación | Físico | |
Área | Ciencia de materiales, ingeniería de materiales y física aplicada | |
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Michael J. Bedzyk es un físico estadounidense de rayos X y profesor de ciencia e ingeniería de materiales en la Universidad Northwestern.[1]
Recibió su licenciatura, maestría y doctorado, todos de la Universidad de Albany. Su tesis doctoral se tituló Análisis de ondas estacionarias de rayos X para bromo quimisorbido en silicio.[2]
Su programa de investigación incluye el desarrollo de nuevas sondas de rayos X y la caracterización de superficies, interfaces y estructuras de películas delgadas con resolución atómica. Realiza experimentos utilizando instalaciones de rayos X internas y de sincrotrón. Estos últimos han mejorado enormemente la sensibilidad química y estructural para estudiar sistemas tan diluidos como una centésima parte de una monocapa atómica.[1]
Miembro elegido miembro de la Sociedad Estadounidense de Física en 1998[3]y de la Asociación Estadounidense para el Avance de la Ciencia en 2012.[4] Obtuvo el Premio Bertram Eugene Warren de Física de Difracción otorgado por la Asociación Estadounidense de Cristalografía en 1994.[5]